Stresstech XStress Robot

A robotkarra implementált XStress Robot rendszer flexibilis mérési lehetőséget biztosít maradófeszültség és roncsolásmentes textúra vizsgálathoz, tagolt felületű és nagyméretű alkatrészek esetében is.

YXLON FF35 Computer Tomograph

Duál csővel megvalósítható metrológia, tomográfia, 3D leképezés nagy felbontással és növelt mintamérettel.

Thermo Scientific Helios G4 PFIB SEM

A LA-PFIB technológia segítségével a konvencionális pásztázó elektronmikroszkópia (képalkotás, EDS, EBSD) kiterjeszthető 3 dimenzióba, lehetővé téve a mikro- valamint nanoméretű anyagmegmunkálást.

Bruker D8 Discover XRD SAXS XRR

Legújabb generációs többcélú röntgen diffraktométer, pordiffrakcióhoz, röntgen reflektometriához és kisszögű röntgenszórás méréséhez, por-, tömbi-, polikristályos-, szuszpenzió- vagy multilayer vékonyréteg minták szerkezeti jellemzéséhez, szoba- vagy magas hőmérsékleten.